- IDEAL PARA PELÍCULAS DE BARRERA - El índice de reflexión de los materiales de barrera como el PA y el EVOH son bien conocidos, por lo que OPTIMEX es el sistema ideal para proporcionar una medición exacta y precisa del espesor de las películas multicapa.
- SIN CONTACTO - La tecnología REFLEX/NIR permite una medición precisa del espesor de la película sin contacto entre el sensor y la película. Esto evita cualquier posible imperfección en la superficie del film.
- SIN ACUMULACIÓN DE AIRE - La tecnología REFLEX/NIR permite una medición precisa sin contacto entre el sensor y la película y, a diferencia de las tecnologías más comunes en el mercado, no necesita un colchón de aire que tradicionalmente es una fuente de inestabilidad.
- ALTA PRECISIÓN - Gracias a su pequeño punto de medición (1mm) OPTYMEX es la solución adecuada para garantizar una medición precisa y fiable con una precisión inferior a 1 micra.
- TECNOLOGÍA OPTYCAL - El sensor óptico funciona según el principio del reflejo, genera un perfil de espesor exacto del material desglosado en segmentos individuales.
Optymex
SISTEMA DE CALIBRADO SIN CONTACTO
Sistema de medición SIN CONTACTO OPTYMEX basado en la tecnología de reflejo NIR para película soplada. OPTYMEX proporciona una medición continua del espesor del material. Instalado en un sistema oscilante que gira alrededor de la burbuja, OPTIMEX es capaz de proporcionar lecturas precisas del perfil independientemente de la velocidad de arrastre o de oscilación del cabezal.
El sensor se utiliza para medir el espesor total de materiales transparentes o semitransparentes cuando el índice de intensidad óptica de estos materiales es suficiente para emitir una señal de interferencia.
Además de los materiales mencionados, en ciertos casos, podría ser posible medir materiales no transparentes.
Gracias a su arquitectura modular, OPTYMEX es sencillo y práctico de utilizar para los operadores a través de un panel de control con pantalla táctil en el que se muestra toda la información de forma clara e intuitiva.
OPTYLAYER
Representa la última solución de medición disponible en el mercado para medir ópticamente el espesor de una muestra con una estructura compleja. Las capas de diferentes materiales generan una reflexión óptica debido a la diferencia del índice de refracción. El cabezal óptico recoge todas las reflexiones que se mezclan con la óptica incorporada.
La señal óptica resultante contendrá información sobre la posición de cada reflexión.
El procesamiento de las señales ópticas permite la reconstrucción de un perfil A-scan (Intensidad de la reflexión vs. Posición).
El análisis del A-Scan permite extraer información sobre las capas individuales.
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